Positron annihilation spectroscopy for the determination of thickness and defect profile in thin semiconductor layers

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Zeitschrift:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1098-0121,  1550-235X

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 75

Nummer: 20

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVB.75.205305 GOOGLE SCHOLAR

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